Методами рентгенівської та електронної дифракції виявлена щільнопакована гексагональна фаза (а = 3,808 A, b = 6,186A) в плівках полікристалічного кремнію і дендрітною та волокнистою структурою. Поліморфне перетворення кубічної (алмазної) структури в гексагональну обумовлено наявністю в полікремнійових плівках впорядковано розташованих дефектів пакування та двійників.
Close-packed hexagonal phase (a = 3,808 А, b =6.186 А) was revealed in X-ray and electron diffraction measurements in polycrystalline silicon films with dendritic and fibrous structure. The cubic (diamond)-hexagonal polymorphous transformation is due by ordered planar defects (twins and stacking faults).
