Зведений каталог бібліотек Києва

 

АбдулінаіАбдуліна, І.
    Патентна експертиза "по-американськи" [Текст] / І. Абдуліна, М. Крук // Інтелектуальна власність : Науково-практичний журнал. — Київ, 2006. — № 3. — С. 48-57.


- Ключові слова:

інтелектуальна власність, интеллектуальная собственность, intellectual property ; патентне право, патентное право ; Сполучені Штати Америки, США, Соединенные Штаты Америки, Stany Zjednoczone Ameryku, United States of America

- Є складовою частиною документа:

Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Наукова бібліотека ім.М.Максимовича Київського національного університету імені Тараса Шевченка   Перейти на сайт