Досліджено спектральні властивості чвертьхвильових інтерференційних фільтрів з трьома півхвильвими прошарками. Фільтри складаються з шарів оксиду кремнію (SiO2) та оксиду титану (ТiO2). Визначено параметри багатошарових структур з контрастними смугами прозорості, які розщеплюються на три окремі підсмуги.
Spectral properties of quarter-wave interference filters with three half-wave layers were investigated. Filters consist of layers of silicon oxide (SiO2) and titan oxide (ТіО2). It was found parameters of multilayer structures with the contrasting transparency bands, which fission on three separate sub-bands.
