метод Чохральського ; кисень, кислород ; магнітна сприйнятливість, магнитная восприимчивость
В роботі проаналізовано ряд робіт присвячених дослідженню преципітації кисню, методами трикристальної дифрактометрії та вимірювання магнітної сприйнятливості, в кристалах кремнію, вирощеного методом Чохральського (Cz-Si) із введеними в них локальними дефектами у процесі відпалу при температурах 850-1000°С та повторного відпалу при 1050°С. Спираючись на дані дослідження, а також літературні дані, запропоновано вірогідну гіпотезу утворення та руйнування термодонорів-ІІ (ТД-ІІ).
In work we were analyzedseries of researches about investigation of oxigen precipitation in Cz-Silicon with interstitial local defects under heat treatment (850-1000°С) and complementary annealing (1050°С) by tripple crystal X-ray diffractometer. According the data of researchesand literature data we suggest the possible hypothesis of formation and destruction of thermodonors-II (TD-II).
