Зведений каталог бібліотек Києва
ЛазернийскКолєнов, C. O. Лазерний скануючий профілограф-профілометр як спектральний інструмент для дослідження шорсткості [Текст] / C.O. Колєнов, Є.М. Смирнов, Л.М. Ільченко, Ю.В. Пільгун // Вісник Київського університету. — Київ, 2000. — 2000. — С. 373-380.
- Ключові слова:
- Анотація:
Запропоновано новий метод дослідження шорсткості поверхонь на основі аналізу двовимірних просторово-частотних спектрів цих поверхонь. Пропонуються для розгляду нові параметри, які характеризують шорсткість за напрямком та за просторово-частотними властивостями, як альтернатива існуючим одновимірним параметрам шорсткості.
- Є складовою частиною документа:
Вісник Київського університету [Текст]. — Київ, 2000. — 2000. — 549 с.
- Теми документа