Зведений каталог бібліотек Києва

 

МетодикавиБулавенко, С. Ю.
    Методика вимірювання розподілу локальної висоти тунельного бар"єру на поверхні твердого тіла [Текст] / С.Ю. Булавенко, П.В. Мельник, М.Г. Находкін, I.E. Оносов // Вісник Київського університету. — Київ, 2000. — 2000. — С. 305-312.


- Ключові слова:

скануючий тунельний мікроскоп, СТМ, тунельний мікроскоп, сканирующий туннельный микроскоп, туннельный микроскоп ; топографія, топография

- Анотація:

Описується методика вимірювання локальної висоти тунельного бар"єру. Наведено результати її випробування на чистій поверхні Si(111) 7x7 та на інтерфейсі Bi/Si(111) 7x7.

- Є складовою частиною документа:

- Теми документа

  • Окремі фонди та колекції КНУ // праці авторів КНУТШ, труды авторов КНУТШ, работы авторов КНУТШ



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Наукова бібліотека ім.М.Максимовича Київського національного університету імені Тараса Шевченка   Перейти на сайт