рентгенівські методи аналізу, рентгеновские методы анализа ; рентгенівська спектроскопія, рентгеновская спектроскопия

Експериментально досліджено відносну інтенсивність рентгенівських емісійних К[альфа з нижнім індексом 3]- та К[альфа з нижнім індексом 4]-лінії [гама]=I(К[альфа з нижнім індексом 3])/I(К[альфа з нижнім індексом 4]) атомів Si, P та Ti у сполуках з їх різним ефективним зарядом (Q). Для Si та P встановлено, що при виникненні заряду на атомі величина [гама] зменшується незалежно від знаку такого заряду. У випадку фосфору спостерігалося монотонне зменшення величини [гама] при зростанні чисельного значення негативного Q у ряду P-ZnP[нижній індекс 2]-Cd P[нижній індекс 2]-InP-GaP (максимальний ефект [приблизно дорівнює] 40%). Для 3d-елемента Ti таке ж зменшення [гама] відповідає зростанню позитивного заряду Q у ряду Ti-TiC-TiO[нижній індекс 2].

Вісник Київського університету [Текст]. — Київ, 2000. — 2000. — 549 с.

• Окремі фонди та колекції КНУ // праці авторів КНУТШ, труды авторов КНУТШ, работы авторов КНУТШ