Зведений каталог бібліотек Києва

 
Пошук Відібрані Опис документа
Початкова сторінка Сайт УФД

ЕліпсометрБятец, М. А.
    Еліпсометричні дослідження діелектричних шарів, напилених на кварцове скло [Текст] / М.А. Бятец, В.І. Кущ, В.А. Одарич, В.Й. Панасюк // Вісник Київського університету. — Київ, 1992. — 1992. — С. 7-12.

- Ключові слова:

діелектричні покриття, диэлектрические покрытия ; оптичне скло, оптическое стекло ; технологія обробки оптичних поверхонь, технология обработки оптических поверхностей

- Анотація:

Виміряні еліпсометричні кути [Дельта] та [псі] світла, відбитого під фіксованим кутом падіння від шарів Al[нижній індекс 2]O[нижній індекс 3], SiO[нижній індекс 2], HfO[нижній індекс 2], нанесених на кварцове скло. Розроблена методика визначення товщинита показника заломлення шарів, яка базується на розв"язку системи двох рівнянь методом ітерацій. Визначені товщина та показник заломлення.

- Є складовою частиною документа:

- Теми документа

  • Окремі фонди та колекції КНУ // праці авторів КНУТШ, труды авторов КНУТШ, работы авторов КНУТШ



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Наукова бібліотека ім.М.Максимовича Київського національного університету імені Тараса Шевченка   Перейти на сайт