Зведений каталог бібліотек Києва

 

53
ВалиВалиев, Р. З.
    Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии [Текст] / Р.З. Валиев. — Москва : Наука, 1991. — 230,1с.
ISBN 5-02-000195-3


- Теми документа

  • ББК науковий // Електронна мікроскопія
  • ББК науковий // Фізика



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Наукова бібліотека ім.М.Максимовича Київського національного університету імені Тараса Шевченка . н - наукова 1 Перейти на сайт
Наукова бібліотека ім.М.Максимовича Київського національного університету імені Тараса Шевченка . фз - фізичний факультет 1 Перейти на сайт
Науково-технічна бібліотека Національного авіаційного університету 3 Перейти на сайт