Зведений каталог бібліотек Києва
53ВалиВалиев, Р. З. Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии [Текст] / Р.З. Валиев. — Москва : Наука, 1991. — 230,1с. ISBN 5-02-000195-3
- Теми документа