Зведений каталог бібліотек Києва

 

621.3
СадчСадчиков, П. И.
    Расчет надежности интегральных схем на основе коэффициентных методик и многокомпонентной физико-математической модели [Текст] : В помощь слушателям семинара по надежности и прогрессивным методам контроля качества продукции / Всесоюзное общество "Знание"; Политехнический музей. — Москва : Знание, 1979. — 110с.


- Зміст:

В изд. также: Аналитические методы системного подхода к упралению качеством изделий микроэлектроники/В.А. Абрамов

- Складові частини документа:

- Теми документа

  • ББК науковий // Мікроелектронна апаратура. Мікроелектроніка



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Наукова бібліотека ім.М.Максимовича Київського національного університету імені Тараса Шевченка . н - наукова 1 Перейти на сайт