53 Фелд Фелдман, Л.     Основы анализа поверхности и тонких пленок [Текст] : Пер. с англ. / Л. Фелдман, Дж. Майер. — Москва : Мир, 1989. — 342с. ISBN 5-03-001017-3

Наявність
Установа	Кількість	Документ на сайті установи
Наукова бібліотека ім.М.Максимовича Київського національного університету імені Тараса Шевченка . н-I - контрольний примірник	1	Перейти на сайт
Наукова бібліотека ім.М.Максимовича Київського національного університету імені Тараса Шевченка . рфз - радіофізичний факультет	1	Перейти на сайт
Наукова бібліотека ім.М.Максимовича Київського національного університету імені Тараса Шевченка . хім/ч - хімічний читальний зал	1	Перейти на сайт
Наукова бібліотека ім.М.Максимовича Київського національного університету імені Тараса Шевченка . фз - фізичний факультет	2	Перейти на сайт
Наукова бібліотека ім.М.Максимовича Київського національного університету імені Тараса Шевченка . н - наукова	1	Перейти на сайт