Абрамов, В. А.     Аналитические методы системного подхода к управлению качеством изделий микроэлектроники [Текст] / В.А. Абрамов // Расчет надежности интегральных схем на основе коэффициентных методик и многокомпонентной физико-математической модели : В помощь слушателям семинара по надежности и прогрессивным методам контроля качества продукции / Всесоюзное общество "Знание"; Политехнический музей. — Москва : Знание, 1979. — С.65-110.