Зведений каталог бібліотек Києва

 

З844
Е912Ефимов, Иван
    Микроэлектроника: Физические и технологические основы, надежности. [Текст] : учебное пособие для вузов / Иван Ефимов, Ю.И. Горбунов, И.Я. Козырь. — Москва : Высшая школа, 1977. — 416 с. : ил.


- Ключові слова:

надійність, надежность, reliability ; мікроелектроніка, микроэлектроника

- Анотація:

В книге изложены физические и технологические основы полупроводниковой и пленочной микроэлектроники, основы работы активных элементов в ИМС; рассмотрены конструктивно-технологичесие особенности, материалы и элементы конструкции ИМС, их структурные элементы, процессы изготовления ИМС, контроль качества ИМС при изготовлении, испытания микросхем.

- Теми документа

  • ББК науковий // Мікроелектронна апаратура. Мікроелектроніка



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Національного авіаційного університету 6 Перейти на сайт