Зведений каталог бібліотек Києва

 
Пошук Відібрані Опис документа
Початкова сторінка Сайт УФД

Бабак, В. П.
    Патент України 36499А, G01R 29/00. Спосіб просторової локації джерел дефектів [Текст] / В.П. Бабак, С.Ф. Філоненко.

- Ключові слова:

патент ; контроль неруйнівний, контроль неразрушающий, non-destructive inspection, NDI ; дефект

- Зміст:

16.04.2001

- Теми документа

  • Персоналії // Бабак Виталий Павлович - доктор технических наук, ректор Национального авиационного университета (1998-2008), член-кореспондент НАН Україниг, Киев (Украина)
  • ББК науковий // Физические методы контроля без разрушения образцов. Неразрушающий контроль. Дефектоскопия



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Національного авіаційного університету   Перейти на сайт