Зведений каталог бібліотек Києва

 
Пошук Відібрані Опис документа
Початкова сторінка Сайт УФД

З844
Р177    Разработать и обосновать радиотехнические методы измерений толщины пленочных покрытий, пригодных для использования автоматического контроля в процессе их наращивания. Оценить дискретные и непрерывные методы фотометрического контроля измерений толщины [Текст] : отчето научно - исследовательской работе, тема № 87К - 89Р за 1 - 4кв. 1990 г. / рук. В.А. Лоссовский, исп.А.Д. Любимов; Мин-тво ГА, Киевский ин-тут инженеров ГА (КИИГА). — Киев, 1990. — 40 с.

- Ключові слова:

контроль, control, supervision ; покриття, покрытие, coat ; вимірювання, измерение, measuring, measurement ; метод, method ; процес, процесс ; звіт науковий, отчет научный

- Теми документа

  • ББК науковий // Мікроелектронна апаратура. Мікроелектроніка



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Національного авіаційного університету 1 Перейти на сайт