В книге дан анализ технологических процесов производства полупроводниковых приборов; рассмотрены вопросы создания омических контактов, защиты и стабилизации поверхности, особенности технологии конкретных типов и групп полупроводниковых приборов, их конструкции; изложены методы контроля технологических процессов и связь их параметров с выходными характеристиками приборов.
