В сборнике представлены материалы по наиболее актуальным проблемам производства микроэлектронной аппаратуры и ее компонентов. К таким проблемам относятся разработка физических методов и средств неразрушающего контроля, в том числе радиофизических, а также разработка вопросов организации визуального контроля. Кроме того, в сборник вошли материалы, посвященные решению отдельных вопросов общей организации контрольных операций в производстве микроэлектронной аппаратуры. Материалы сборника могут быть полезны широкому кругу специалистов, занимающихся вопросами производства микроэлектронной аппаратуры и ее компонентов.
