В3 | Ф374 | Фелдман, Леонард Основы анализа поверхности и тонких пленок [Текст] = Fundamentals of surface and thin film analysis / перевод с англ. канд. физ.-мат. наук В. А. Аркадьева и Л. И. Огнева, под ред. д-ра физ.-мат. наук В. В. Белошицкого. — Москва : Мир, 1989. — 344 с. |
| | |
|