В книге рассматривается методика расчета надежности полупроводниковых радиоустройств летательных аппаратов по постепенным, временным и перемежающимся отказам.Показаны возможности расчета надежности радиоизделий с учетом воздействия ядерной радиации.Методы расчета иллюстрируются примерами анализа и синтеза надежности конкретных схем аппаратуры.
Книга предназначена для лиц занимающихся производством и эксплуатацией бортовой радиоэлектронной аппаратуры., может быть полезна для студентов высших учебных заведений радиотехнической специальности.
