Зведений каталог бібліотек Києва

 

З843
В803Зубарєв, Владимир
    Вплив дефектів функціональних матеріалів на надійність електроніки [Текст] : монографія / Лєнков Сергій Васильович, ред. — Одеса : Друк, 2003. — 440 с.
ISBN 966-8099-82-6


- Ключові слова:

електроніка, электроника, electronics ; контроль неруйнівний, контроль неразрушающий, non-destructive inspection, NDI ; апаратура радіоелектронна, РЕА, аппаратура радиоэлектронная, РЭА, radio elektronic equipment ; електроніка напівпровідникова, электроника полупроводниковая ; класифікація дефектів, классификация дефектов ; надійність техніки, надежность техники ; надійність радіоелектронної апаратури, надежность радиоэлектронной аппаратуры ; надійність апаратури, надежность аппаратури ; дефект прихований, дефект скрытый ; дефекти напівпровідників, дефекты полупроводников ; дефект структури, дефект структуры ; структура напівпровідників, структура полупроводников ; діагностика дефектів, диагностика дефектов ; Техніка, с.г., медицина

- Анотація:

Монографія присвячена проблемі надійності виробів електронної техніки (ВЕТ). Цю проблему автори пропонують вирішувати через вияв дефектів ВЕТ та використаних у них функціональних матеріалів. Надані дані про теорію зародження та розвитку таких дефектів, методи і засоби їх раннього виявлення. Книга містить багато довідкових даних, мікрофотографій дефектів структури напівпровідників ВЕТ. Характерні їх дефекти зведені в атлас, що публікується вперше. Буде корисна науковцям, інженерам, аспірантам та студентам спеціальностей електронної техніки.

- Теми документа

  • ББК науковий // Надежность радиоэлектронной аппаратуры. Долговечность, точность, срок службы, выносливость, безаварийность
  • ББК науковий // Свойства и качество полупроводниковых радиотехнических материалов и изделий



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Національного авіаційного університету 2 Перейти на сайт