С единых позиций рассмотрены методология, а также методы и средства решения задач технической диагностики БИС одновременно для этапов проектирования, производства и применения. Основное внимание уделено диагностическому обеспечению САПР проектирования КМОП матричных БИС, проблемам анализа и обеспечения их контролепригодности, самодиагностируемости и отказоустойчивости.
Для студентов высших учебных заведений.
