Зведений каталог бібліотек Києва

 

Задорожній, Р. О.
    Аналіз артефактів, що виникають при взаємодії зонда та зразка в атомно-силовому мікроскопі [Текст] / Р.О. Задорожній // VIII міжнародна наукова конференція студентів та молодих учених "Політ", 10-11 квітня 2008 р. : збірник тез / Національний авіаційний університет. — Київ, 2008. — С. 70.


- Ключові слова:

метрологія, метрология, metrology ; вимірювання, измерение, measuring, measurement ; забезпечення метрологічне, обеспечение метрологическое ; мікроскопія, микроскопия ; вимірювання технічне, измерение техническое ; мікроскоп електронно-зондовий, микроскоп электронно-зондовый

- Є складовою частиною документа:

- Теми документа

  • ББК науковий // Електронна мікроскопія
  • ББК науковий // Теория метрологии и техники измерений



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Національного авіаційного університету   Перейти на сайт