В настоящем сборнике помещена серия статей, посвященных результатам теоретических и эксперементальных исследований в области физических причин, приводящих к выходу транзисторов их строя, и конструктивных и технологическим методам, позволяющим снизить влияние этих причин на надежность транзисторов.
