аналіз, анализ, analysis ; контроль, control, supervision ; випробування, испытание, test ; мікроелектроніка, микроэлектроника

Определен минимально необходимый объем отбраковочных испытаний изделий микроэлектроники для космических аппаратов. Предложенный подход позволяет минимизировать затраты на проведение испытаний, реализация которых способствует обеспечению надежности функционирования аппаратуры и КА в целом.

Известия высших учебных заведений [Текст] / Санкт-Петербургский государственный институт точной механики и оптики (технический университет). — Москва.

• ББК науковий // Радиоэлектронная аппаратура космических летательных аппаратов