|
-
Ключові слова:
метод вимірювальний, метод измерительный ; матеріал напівпровідниковий, материал полупроводниковый, semiconducting material
-
Анотація:
Изложены основы методов измерения электрофизических параметров полупроводниковых материалов, рассматриваются вопросы их практической реализации; даны условия и границы применения методов измерения; проведен анализ причин возникновения погрешностей измерения и т. д.
-
Теми документа
-
ББК науковий // Измерение сопротивления, индуктивности и емкости
-
ББК науковий // Напівпроводникові матеріали та вироби
|
