Розглянуто спосіб вимірювання температури фотоелементів. Розглянуто ряд робіт, в яких зазначено, що коливання температури, як навколишнього середовища, так і самих фотоелементів суттєво впливають на їх вихідні характеристики. Температурні вимірювання використовуються в алгоритмах пошуку точки максимальної потужності, для отримання, так званих, температурних коефіцієнтів. Описаний метод передбачає застосування кристала фериту-граната ітрію, поміщеного у постійне магнітне поле і намагніченого до насичення у якості чутливого елемента пристрою. Для вимірювання зміни температури використовується залежність кута повороту площини поляризації світла, що проходить крізь кристал, від температури
Рассмотрен способ измерения температуры фотоэлементов. Рассмотрено ряд работ, в которых отмечено, что колебания температуры, как окружающей среды, так и самих фотоэлементов существенно влияют на их выходные характеристики. Температурные измерения используются в алгоритмах поиска точки максимальной мощности, для получения, так называемых, температурных коэффициентов. Описанный метод предполагает применение кристалла феррита-граната иттрия, помещенного в постоянное магнитное поле и намагниченногодо насыщения в качестве чувствительного элемента устройства. Для измерения изменения температуры используется зависимость угла поворота плоскости поляризации проходящего света в кристалле от температуры
In this work a method of measuring the temperature of photocells is considered. A series of works are analyzed in which noted that temperature fluctuations of environment and photocell significantly affect output characteristics of photovoltaic cells. Temperature measurements are used in maximum power point tracking algorithms, for calculating the thermal coefficients of photocells. The described method uses yttrium iron garnet crystal placed in a constant magnetic field and magnetized to saturation as a sensing element of the device. To measure the temperature change the polarization plane rotation angle of transmitted light in the crystal dependence on temperature is used
