Запропоновано використовувати теорію кіл Річардса для визначення параметрів шарованих покриттів. Отримані результати можливо використовувати для проектування радіомаскуючих покриттів, до складу яких входять діелектричні слої.
Предложено использовать теорию кругов Ричардса для определения параметров слоистой покрытий. Полученные результаты можно использовать для проектирования радиомаскуючих покрытий, в состав которых входят диэлектрические слои.