Зведений каталог бібліотек Києва

 

З844
Э454Кузин, С. М.
    Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем [Текст] : обзоры по электронной технике / С.М. Кузин, В.Н. Панасюк, В.Г. Мокеров, В.В. Исаев. — Москва : Электроника, 1989. — 32 с.


- Теми документа

  • ББК науковий // Інтегральні мікросхеми



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Національного авіаційного університету 1 Перейти на сайт