Зведений каталог бібліотек Києва

 

З844
Б955Быстров, Юрий
    Технологический контроль размеров в микроэлектронном производстве [Текст] / Юрий Быстров, Е.А. Колгин, Б.Н. Котлецов. — Москва : Радио и связь, 1988. — 168 с. : ил.


- Ключові слова:

схема інтегральна, схема интегральная ; прилад електронний, прибор электронный

- Анотація:

Рассматриваются различные методы и средства измерения линейных размеров, толщин и глубин топологических элементов интегральных микросхем с позиций их применимости для неразрушающего и оперативного контроля в процессе производства. Указаны пути совершенствования и оценены предельные возможности каждого из методов.

Приводятся рекомендации по выбору структурных схем и алгоритмов для решения задач автоматизации процесса измерения.

Для инженерно-технических работников.

- Теми документа

  • ББК науковий // Інтегральні мікросхеми



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Національного авіаційного університету 5 Перейти на сайт