В книге рассматриваются основные аспекты надежности полупроводниковых интегральных схем (ИС). Приводятся виды и основные причины отказов ИС в процессе производства и эксплуатации. Анализируются методы контроля качества, оценки и прогнозирования надежности ИС.
Книга рассчитана на инженерно-технических работников, занимающихся производством и использованием полупроводниковых ИС, а также будет полезна студентам вузов и техникумов соответствующих профилей.
