Предлагаемое учебное пособие посвящено применению теории рассеяния рентгеновских лучей к исследованию реальных кристаллов, а также основам динамической теории и ее применению к исследованию почти совершенных кристаллов. Во втором издании дополнительно рассмотрены вопросы рассеяния на модулированных структурах, комплексах Гинье. Изложены основы метода флюктуационных волн для расчета интенсивности диффузного рассеяния на флюктурциях состава и смещений в случае как точечных, так и протяженных дефектов.
Книга рассчитана на студентов физических факультетов университетов и технических вузов, кроме того, может быть использована научными сотрудниками, применяющими дифракционные методы для исследования структуры реальных твердых тел.
