Обобщен опыт разработки методов и средств измерения и контроля параметров цифровых интегральных микросхем (ИС). Рассматриваются различные классы цифровых ИС и их характеристики. Излагаются методы измерения статических и динамических параметров, функционального контроля цифровых ИС, принципы построения средств измерения и контроля.
Для инженерно-технических работников - разработчиков цифровых ИС и аппаратуры на их основе, атакже для специалистов по метрологическому обеспечению выходного контроля ИС.
