Електронна мікроскопія
Документи:
- 2-е совещание по электронной микроскопии [Текст]. — Москва, 1958. — 65с.
- 3-е Всесоюзное совещание по электронной микроскопии [Текст] : Рефераты докл. / Науч.-техн. об-во радиотехн. и эл. связи, Комиссия по эл. микроскопии АН СССР. — Ленинград, 1960. — 139 с.
- Аналіз артефактів, що виникають при взаємодії зонда та зразка в атомно-силовому мікроскопі [Текст] / Р.О. Задорожній // VIII міжнародна наукова конференція студентів та молодих учених "Політ", 10-11 квітня 2008 р. : збірник тез / Національний авіаційний університет. — Київ, 2008. — С. 70.
- Використання зондової мікроскопії для дослідження накопичувачів інформації [Текст] / Р.О. Задорожній, О.В. Кочеткова // Защита информации : сборник научных трудов НАУ: специальный выпуск / МОН; Национальный авиационный университет; Азаров А.Д., ред. — Киев, 2008. — С. 169-172.
- Электронная микроскопия [Текст] : учеб. пособие / В.В. Корнилов. — Москва : Издательство университета дружбы народов, 1975. — 64 с.
- Электронномикроскопическое исследование структуры высокоугловых границ в пленках SnSe. [Текст] : Автореф... канд. физ.-мат.наук: 01.04.07 / Ветчинкина З.К.; Харьк. политех. ин-т. — Харьков, 1981. — 18л.
- Исследование образования тонких полисилоксиновых пленок из газовой фазы на твердых поверхностях под действием электронов [Текст] : Автореф. дис. ... канд. хим. наук : 078 / Цапук А.К. ; Науч. исслед. физ.-хим. ин-т. — Москва, 1969. — 12 с.
- Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии [Текст] / Р.З. Валиев. — Москва : Наука, 1991. — 230,1с.
- Методика вимірювання геометричних розмірів об'єктів зондовим мікроскопом [Текст] / В.П. Квасніков, Р.О. Задорожній // Матеріали IX міжнародної науково-технічної конференції "ABІА-2009", 21-23 вересня 2009 року / Кулик М.С., гол. оргком.; Національний авіаційний університет; МОН. — Київ, 2009. — С. 1.57-1.60 : рис.
- Основи електронної та зондової мікроскопії [Текст] : навч. посібник / О.Я. Тузяк, В.Ю. Курляк ; М-во освіти і науки, молоді та спорту України, Львів. нац. ун-т ім. І. Франка. — Львів : ЛНУ ім. І. Франка, 2012. — 295, [1] с. : іл., табл.
- Развитие физических основ сенсорных систем в растровой электронной микроскопии [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук: 01.01.04 / Московский университет .Физический факультет. — Москва, 1979. — 17 с.
- Рефераты докладов на совещании по электронной микроскопии 15-19 декабря 1950 г. [Текст]. — Москва ; Ленинград : Издательство АН СССР, 1950. — 116 с.
- Скануюча зондова мікроскопія та спектроскопія [Текст] : навч. посібник для студ. фіз. та радіофіз. спец. ВНЗ / А.М. Горячко, С.П. Кулик, О.В. Прокопенко ; М-во освіти і науки України, Київ. нац. ун-т ім. Тараса Шевченка. — Київ : Київський університет, 2013. — 256 с., [16] арк. кольор. іл. : іл., табл.
- Советская электронная микроскопия [Текст] / Ю.М. Кушнир. — Москва, 1952. — 32 с.
- Четвертое Всесоюзное Совещание по электронной микроскопии [Текст] : Тезисы докл. / Науч-техн. общ-во радиотехн. и электросвязи. — Сумы, 1963. — 134с.
- Modern methods of routine surface analysis. [Текст] / O.Zaporojets Bilykovych // Матеріали VI Міжнародної науково-технічної конференції "АВІА-2004", 26-28 квітня 2004 рТ. 4. Т. 4: Т. 4 / "АВІА", міжнародна науково-технічна конференція (6; 2004; Київ) ; Національний авіаційний університет - Київ : НАУ , 2004. — С. 42.19-42.22 : ил.
|
