Кусий, Я. М.     Аналіз принципових схем пристроїв для контролю мікрогеометрії поверхні [Текст] / Я.М. Кусий, В.Г. Топільницький, О.В. Широков // Эффективность реализации научного, ресурсного и промышленного потенциала в современных условиях : материалы восьмой ежегод. междунар. пром. конф., 11-15 февр. 2008 г., п. Славское, Карпаты. — Киев, 2008. — С. 210-212.