| | Sydor, Andriy Modeling indices of reliability for ramified embedded systems [Текст] / Andriy Sydor // Перспективні технології і методи проектування МЕМС : матеріали Четвертої міжнар. конф. молодих вчен. MEMSTECH' 2008, 21-24 трав. 2008, Львів, Поляна, Україна. / Нац. ун-т "Львів. політехніка". — Л. : Вежа і Ко, 2008. — С. 75-76. |
| | |
|