13th International conference on defects recognition, imaging and physics in semiconductors [Текст] : final progr., Sept. 13-17, 2009, Wheeling, West Virginia USA. — Wheeling, 2009.

Наявність
Установа	Кількість	Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Львівського національного університету «Львівська політехніка»		Перейти на сайт