Зведений каталог бібліотек Львова

 

539.26(075.8)
Ш558
2
Шиврин, Олег
    Теоретические основы дифракционных методов исследования структуры [Текст] : курс лекций для студентов физ. специальности / Петрозав. гос. ун-т им. О. В. Куусинена. — Петрозаводск : Изд-во ПГУ, 1979. — 79 c.


- Теми документа

  • УДК // Властивості та структури, виявлені за допомогою рентгенівських променів. Виявлення тонкої структури



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Львівського національного університету «Львівська політехніка» 1 Перейти на сайт