621.382.3 Ш651 2 ШифринКрыжаловский, Юлий     Тепловая устойчевость транзисторов и надежность радиоэлектронной аппаратуры [Текст] / Юлий ШифринКрыжаловский, Владислав Митин. — М. : Сов. радио, 1966. — 256 с.

Наявність
Установа	Кількість	Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Львівського національного університету «Львівська політехніка»	6	Перейти на сайт