Stech, Yuri     Graphical system for pattern recognition [Текст] / Yuri Stech, M.E.Sardieh Fajsal, Andriy Kernytskyy, Mykhaylo Lobur // "Досвід розробки та застосування приладо-технологічних САПР в мікроелектроніці", X Міжнародна науково-технічна конференція (CADSM), 24-28 лют. 2009 р., Львів, Поляна, Україна : матеріали конф. / Нац. ун-т "Львів. політехніка". — Л. : Вежа і Ко, 2009. — C. 483-484.