Опис документа

Зведений каталог бібліотек Львова

Опис документа

Surface and Interface Analysis [Текст]. — 2010. — iss. 6/7.

Comparison of electrical properties of HgCdTe subsurface layers formed by low energy ion beam milling or anodic oxidation [Текст] / N. Berchenko, I. Izhnin, M. Pociask, V. Yakovyna // 13th European conference on applications of surface and interface analysis : book of abstr., Oct. 18-23, 2009, Antalya, Turkey. — Ankara, 2009. — P. 183.
Specifics of Hg-based narrow gap semiconductor oxidation [Текст] / N.N. Berchenko, K. Kurbanov, S.V. Fadeev // Surface and Interface Analysis. — 2010. — iss. 6/7. — P. 966-969.

Наявність

Установа Кількість Документ на сайті установи

Науково-технічна бібліотека Львівського національного університету «Львівська політехніка» Перейти на сайт