535.33
А64 2	Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии [Текст] / М. П. Сих, Д. Бриггс, Дж. К. Ривьер [и др.] ; [под ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха ; пер. с англ. под ред. В. И. Раховского, И. С. Реза]. — М. : Мир, 1987. — 598 с.