Совин, Я. Р.     Тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS [Текст] / Я.Р. Совин, Ю.М. Наконечний, В.М. Чінка, І.Я. Тишик // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". Серія : Електроніка : [зб. наук. пр.] / М-во освіти і науки України ; відп. ред. Д. Заячук. — Львів : Вид-во Нац. ун-ту "Львів. політехніка", 2006. — С. 168-175.