621.382.8(06)
М545 2	Методы и оборудование контроля интегральных микросхем высокой функциональной сложности [Текст] : сб. науч. тр. / Москов. ин-т электронной техники ; [редкол.: Н. Д. Дубовой (отв. ред.) и др.]. — М. : МИЭТ, 1982. — 117 с.