|
| 548.4 | Б82
2 | Боргардт, Николай
Исследование дефектов кристаллической структуры, возникающих в полупроводниках при технологических воздействиях, методами амплитудно-фазового электронно-микроскопического контраста [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-математ. наук : 01.04.10 / Моск. ин-т электрон. техники. — М., 1984. — 17 с. | |
| | |
|
