Yakovyna, V.     Markov chain dynamic representation model for reliability testing [Текст] / V. Yakovyna, P. Serdyuk, O. Nytrebych // Досвід розробки та застосування приладо-технологічних САПР в мікроелектроніці : матеріали XIІ Міжнар. наук.-техн. конф. CADSM 2013, 19-23 лют. 2013 р., Львів, Поляна, Україна / Нац. ун-т "Львів. політехніка". — Львів : Вид-во Львів. політехніки, 2013. — C. 384-385.