Созанський, М. А.     Визначення товщини напівпровідникових тонких плівок ZnS методом інверсійної вольтамперометрії [Текст] / М.А. Созанський, В.Є. Стаднік, Р.Т. Чайківська, П.Й. Шаповал // Сучасні тенденції 2015 : тези доп. Київ. конф. з аналіт. хімії, присвяч. 110-річчю від дня народж. видатн. укр. хіміка-аналітика акад. А. К. Бабка, 7-9 жовт. 2015, Київ / Київ. нац. ун-т ім. Т. Шевченка, Хім. ф-т, каф. аналіт. хімії. — Київ, 2015. — С. 125.