Опис документа

A determination of propagation constants of symmetric planar waveguide modes in a frequency domain [Текст] / V.M. Fitio, V.V. Romakh // Semiconductor Physics Quantum Electronics and Optoelectronics [Текст] : міжнар. наук. журн. / НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. — P. 252-255.
Electron mobility in CdxHg1-xSe [Текст] / O.P. Malyk // Semiconductor Physics Quantum Electronics and Optoelectronics [Текст] : міжнар. наук. журн. / НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. — P. 272-275.
Free-volume correlations in positron-sensitive annihilation modes in chalcogenide vitreous semiconductors: on the path from illusions towards realistic physical description [Текст] / O.I. Shpotyuk, M.M. Vakiv, M.V. Shpotyuk та ін. // Semiconductor Physics Quantum Electronics and Optoelectronics [Текст] : міжнар. наук. журн. / НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. — P. 243-251.
Impedance anisotropy and quantum photocapacity of bio/inorganic clathrates InSe and gase [Текст] / F.O. Ivashchyshyn, I.I. Grygorchak, M.I. Klapchuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics and Optoelectronics [Текст] : міжнар. наук. журн. / НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. — P. 362-366.
Magnetic-ordered and superconducting units within the surface layers of PbTe:Eu crystals grown from melt by the Bridgman method [Текст] / D. Zayachuk, O. Ilyina, D. Kaczorowski та ін. // Semiconductor Physics Quantum Electronics and Optoelectronics [Текст] : міжнар. наук. журн. / НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. — P. 336-343.
Modelling the temperature conditions in three-dimensional piecewise homogeneous elements for microelectronic devices [Текст] / V.I. Gavrysh // Semiconductor Physics Quantum Electronics and Optoelectronics [Текст] : міжнар. наук. журн. / НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. — P. 478-481.
Morphologic and optical characterization of ZnO:Co thin films grown by PLD [Текст] / M.V. Vuichyk, Z.F. Tsybrii, S.R. Lavoryk та ін. // Semiconductor Physics Quantum Electronics and Optoelectronics [Текст] : міжнар. наук. журн. / НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. — P. 80-84.
On the origin of radiation-induced metastability in vitreous chalcogenide semiconductors: The role of intrinsic and impurity-related destruction-polymerization transformations [Текст] / M.V. Shpotyuk, M.M. Vakiv, O.I. Shpotyuk, S.B. Ubizskii // Semiconductor Physics Quantum Electronics and Optoelectronics [Текст] : міжнар. наук. журн. / НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. — P. 90-96.
Peculiarities of valence band formation in As-Ge-Se semiconductor glasses [Текст] / M. Vakiv, R. Golovchak, D. Chalyy та ін. // Semiconductor Physics Quantum Electronics and Optoelectronics [Текст] : міжнар. наук. журн. / НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. — P. 32-34.
Seebeck's effect in p-SiGe whisker samples [Текст] / A.P. Dolgolenko, A.A. Druzhinin, A.Ya. Karpenko та ін. // Semiconductor Physics Quantum Electronics and Optoelectronics [Текст] : міжнар. наук. журн. / НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. — P. 456-460.
Semiconductor Physics Quantum Electronics and Optoelectronics [Текст] = Фізика напівпровідників, квантова електроніка та оптоелектроніка : міжнар. наук. журн. / НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. — Київ.
The new approach to identification of film reflecting holographic marks [Текст] / S.O. Kostyukevych, L.I. Muravsky, V.M. Fitio та ін. // Semiconductor Physics Quantum Electronics and Optoelectronics [Текст] : міжнар. наук. журн. / НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. — P. 350-356.
Thermal simulation of heterogeneous structural components in microelectronic devices [Текст] / V.I. Gavrysh, D.V. Fedasyuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics and Optoelectronics [Текст] : міжнар. наук. журн. / НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. — P, 439-443.
Thermal state modeling in thermosensitive elements of microelectronic devices with reach-through foreign inclusions [Текст] / V.I. Gavrysh // Semiconductor Physics Quantum Electronics and Optoelectronics [Текст] : міжнар. наук. журн. / НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. — P. 247-251.