Зведений каталог бібліотек Львова

 
Пошук Відібрані Опис документа
Початкова сторінка Сайт УФД

621.382.8.019.3
К30
2		    Качество и надежность изделий. № (12): Ускорение испытания элементов и систем / Г. Д. Карташов. Элементы физико-статистической теории надежности интегральных микросхем / И. Т. Алексанян [Текст] / Всесоюз. о-во "Знание", Полит. музей. — М. : Знание, 1990. — 91 с.
ISBN 5-07-001401-3

- Теми документа

  • УДК // Контроль якості продукції. Інструментальне виробництво. Види матеріалів, заготовок
  • УДК // Молекулярна електроніка. Тверді схеми



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Львівського національного університету «Львівська політехніка» 1 Перейти на сайт