Depko, Petro     Reseach of possibility to use the flicker-noise for diagnostics of internal structure of radioelectronic elements [Текст] / Petro Depko // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії : матеріали міжнар. конф. TCSET'2008, 19-23 лют. 2008 р., Львів, Славсько, Україна / М-во освіти і науки України, Нац. ун-т "Львів. політехніка". — Львів : Вид-во Нац. ун-ту "Львів. політехніка", 2008. — С. 229-230.