Зведений каталог бібліотек Львова

 
Пошук Відібрані Опис документа
Початкова сторінка Сайт УФД

Ясінський, М.
    Атомна силова мікроскопія: новий метод експрес-аналізу шорсткості полімерних матриць [Текст] / М. Ясінський // Комп’ютерні технології друкарства: Зб. наук. праць. — 1999. — 3. — с. 354-358.

- Ключові слова:

аналіз шорсткості ; атомна силова мікроскопія ; мікроскопія ; полімерні матриці ; силова мікроскопія

- Є складовою частиною документа:

- Теми документа

  • Українська академія друкарства // Ясінський М.Ф., доц.



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Бібліотека Української академії друкарства